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磁粉探伤基础知识
  • 资料等级:
  • 授权方式:资料共享
  • 发布时间:2012-02-16
  • 资料类型:RAR
  • 资料大小:4.45 MB
  • 资料分类:电气工程
  • 运行环境:WinXp,Win2003,WinVista,Win ;
  • 解压密码:gc5.com
磁粉探伤基础知识
磁粉检测的质量控制,是对影响磁粉检测灵敏度和检测可靠性的诸因素逐个地加以控制,国外非常重视,不仅制定了具体控制项目,校验周期和技术要求,而且还设有质量检测机制,保证贯彻执行。
同时对质量控制技术要求,通过实践不断修正。例如几年前美国要求工件表面的白光照度不低于200英尺烛光,(2100LX)现在修正为100英尺烛光(1000LX),将此画规范由直径每英寸800--------1200A,电流修正降低为300-------800A,使我国与国外磁粉检测技术要求越来越接近,越来越合理。
现在国内有些质量控制没有制定一致标准,有的虽然纳入标准,但是也只是形式。